天瑞仪器中国公司上海办事处

X荧光光谱仪

产品信息

采用国际上先进的由美国生产的半导体制冷的最新型探测器,电制冷,无需液氮制冷,可常温保存,使用方便。同时这款探测器内置信噪比增强器,提高了仪器精度和检出下限,金属的有害物质检出限比原有探测器高出近5倍。可用于玩具安全检测。

技术指标

※. 测量元素:从硫至铀等 75 种元素

※. 元素含量分析范围:1ppm-99.99%

※. RoHS 指令规定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)

※. 测量时间: 60-300s

※. 能量分辨率为: 155±5eV

※. 测量精度: < 0.05%

※. 高压:5-50kV

※. 管流:50-1000uA

※. 温度适应范围: 15-30℃

※. 相对湿度:≤70%

※. 仪器功率:≤90瓦

※. 电源:交流 220±5V(建议配置交流净化稳压电源)

※. 超大样品腔,尺寸Φ450×90mm

※. 一次可同时分析24个元素

※. 重量:110kg

配置

移动样品平台

加强的金属元素感度分析器

放大电路

信噪比增强器(SNE)

计算机、喷墨打印机

自动选择滤光片

多种准直器自动自由切换

三重安全保护模式

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回归程序

样品腔上盖自动升降

软件定位样品平台最小

X荧光光谱仪